發(fā)布時(shí)間： 2025-09-22 點(diǎn)擊次數(shù)： 132次
TJ270-30A紅外分光光度計(jì)測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性高度依賴于規(guī)范的操作流程。任何步驟的疏忽，如樣品污染、環(huán)境濕度過高或參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤，都可能導(dǎo)致譜圖失真、基線漂移或特征峰誤判。掌握
TJ270-30A紅外分光光度計(jì)科學(xué)、嚴(yán)謹(jǐn)?shù)氖褂貌襟E，是確保數(shù)據(jù)可靠、解析精準(zhǔn)的關(guān)鍵。
第一步：環(huán)境準(zhǔn)備與儀器預(yù)熱
確保實(shí)驗(yàn)室溫度穩(wěn)定（20±2℃），濕度低于60%。關(guān)閉門窗，避免氣流擾動(dòng)。開啟儀器電源，啟動(dòng)內(nèi)置干燥系統(tǒng)（通入高純氮?dú)饣蚋稍锟諝猓?，吹掃光路至?0分鐘，防止水汽與二氧化碳干擾。同時(shí)預(yù)熱光源（如硅碳棒），待系統(tǒng)提示“Ready”后方可進(jìn)行測(cè)量。
第二步：采樣與樣品制備
根據(jù)樣品形態(tài)選擇合適方法：
固體樣品：采用KBr壓片法，將1–2mg樣品與100–200mg干燥KBr粉末混合研磨，用壓片機(jī)壓成透明薄片；
液體樣品：滴加至兩片NaCl或KBr晶片間，形成液膜，或注入液體池；
不溶或難處理樣品：使用ATR（衰減全反射）附件，直接將樣品壓于金剛石或ZnSe晶體表面，無需制樣。
第三步：背景掃描
在不放置樣品的情況下，執(zhí)行背景掃描。對(duì)于透射法，使用純KBr片或空液體池；ATR模式下掃描潔凈晶體表面。此步驟記錄儀器與環(huán)境的本底信號(hào)，用于后續(xù)樣品光譜的基線校正。
第四步：樣品掃描
將制備好的樣品放入樣品室，確保位置正確、接觸良好。選擇合適參數(shù)：分辨率（通常4cm）、掃描次數(shù)（16–32次以提高信噪比）、波數(shù)范圍（4000–400cm）。啟動(dòng)掃描，儀器自動(dòng)采集干涉圖并經(jīng)傅里葉變換生成紅外光譜。
第五步：數(shù)據(jù)處理與譜圖分析
軟件自動(dòng)扣除背景，生成樣品吸收光譜。進(jìn)行基線校正、峰平滑、歸一化等處理。通過譜庫檢索（如NIST、Sadtler）比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)圖譜，識(shí)別官能團(tuán)（如C=O在1700cm、O-H在3400cm）。結(jié)合專業(yè)知識(shí)解析分子結(jié)構(gòu)。
第六步：清潔與關(guān)機(jī)
取出樣品，清潔壓片模具、液體池或ATR晶體，用無水乙醇棉簽擦拭，防止交叉污染。關(guān)閉軟件與儀器電源。持續(xù)通入干燥氣體數(shù)分鐘，保護(hù)光學(xué)元件。填寫使用記錄，包括樣品信息、參數(shù)設(shè)置與操作人員。
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